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X荧光光谱仪优缺点及用途
点击次数:2852 发布时间:2012-05-30
  X荧光光谱仪优点  
  a)分析速度高。测定用时与测定精密度有关,但一般都很短,2~5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。  
  b)X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关,而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内,这种效应更为显著。波长变化用于化学位的测定。  
  c)非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变,也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量,结果重现性好。  
  d)X射线荧光分析是一种物理分析方法,所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。  
  e)分析精密度高。  
  f)制样简单,固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。 
  X荧光光谱仪缺点 
  a)难于作分析,故定量分析需要标样。 
  b)对轻元素的灵敏度要低一些。
  c)容易受相互元素干扰和叠加峰影响。 
  X荧光光谱仪主要用途 
  X荧光光谱仪根据各元素的特征X射线的强度,也可以获得各元素的含量信息。 
  近年来,X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展,已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域,特别是在RoHS检测领域应用得zui多也zui广泛。 
  大多数分析元素均可用其进行分析,可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品,分析范围为Be到U。并且具有分析速度快、测量范围宽、干扰小的特点。

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