镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。

　　随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用X射线镀层测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用*泛的测厚仪器。

　　镀层测厚仪器专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。

　　镀层测厚仪器的性能特点：

　　1、上照式

　　2、测试组件可升降

　　3、高精度移动平台

　　4、小准直器

　　5、高分辨率探头

　　6、可视化操作

　　7、自动定位高度

　　8、自动寻找光斑

　　9、鼠标定位测试点

　　10、良好的射线屏蔽

　　11、超大样品腔设计

　　12、测试口安全防护